情報システムの試験審査プロセスにおけるリスク分析についての質問です。

オブジェクト指向言語（Ｃ＋＋）を使用して大規模な情報システムをウォーターフォールにて構築しています。Ｖ字モデルの試験工程（単体テスト（ＰＴ）→結合テスト（ＩＴ）→統合テスト（ＳＴ））を、従来は品質を高めるため２回繰り返していました。しかし、テストにあまりに時間がかかりすぎるため、１回で済ませたいと考えています。

その為に「２回にするより１回で済ませる方がよい」と定量的に示すためにリスク分析を利用したいと考えているのですが、リスク分析にも色々種類があり、またリスク分析がいかなるモノなのかよくわかっていない上に、適用するのがリスク分析でよいのかどうかもわかっていません。

「２回にするより１回で済ませる方がよい」と定量的に示す方法について、リスク分析またはそれに類する方法を教えて下さい。また、適用するのがリスク分析でよい場合、具体的なリスク分析の手法（ＦＴＡ ｏｒ ＦＭＥＡその他等々）具体的な中身等についても教えて下さい。よろしくお願いいたします。